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澳譜特科技參加第十二屆中國顆粒大會(CCPT12)
2023-6-12
2023年4月21-24日,第十二屆中國顆粒大會在海口魯能希爾頓酒店成功舉辦,本次會議是顆粒學領域綜合性學術年會,吸引了來自全國高校、科研院所、企事業單位的2000余名科技工作者參加,80余家單位參展。大會以“創新助力雙碳,綠色賦能發展”為主題,邀請了馬光輝、郭烈錦、余艾冰等院士作特邀報告,圍繞顆粒學相關領域的科研進展、產業發展趨勢等展開交流。澳譜特科技專家劉偉教授應邀作了關于“動態光散射納米顆粒粒度測量方法進展”的主題報告,從“自動過濾受灰塵干擾的散射光、相關函數的截取方式...
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靜態圖像粒度儀在質量控制和研發過程中的作用
靜態圖像粒度儀在質量控制和研發過程中起著重要的作用。它是一種現代化的顆粒分析儀器,利用高分辨率的圖像采集和圖像處理技術,能夠快速準確地測量和分析物料中的顆粒大小、形態以及顆粒分布情況。下面將從質量控制方面詳細介紹其作用。在質量控制方面,靜態圖像粒度儀提供了關鍵的數據和信息,幫助企...
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2023-10-19
動態圖像粒度分析儀在材料科學中的應用介紹
動態圖像粒度分析儀在材料科學中是一種重要的實驗工具,用于研究和表征不同材料樣品中的顆粒特性。這些儀器能夠對樣品中的顆粒進行實時觀察和測量,并提供有關顆粒形狀、大小分布以及聚集狀態等信息。動態圖像粒度分析儀在材料科學中的應用介紹:1、粒度分布分析:可以通過觀察和記錄顆粒的圖像來確定...
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2023-09-19
納米粒度分析儀:精準測量微細顆粒尺寸的先進工具
近年來,隨著納米技術的發展和應用的廣泛推廣,對納米顆粒的尺寸分析需求日益增加。為了滿足這一需求,科學家們開發出了一種先進的納米粒度分析儀,該儀器能夠快速、精確地測量微細顆粒的尺寸分布和粒徑參數。納米粒度分析儀采用了先進的激光散射技術和粒子追蹤方法,具有高靈敏度和高分辨率。它可以在...
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2023-08-21
納米粒度電位儀如何測量納米顆粒的表面電位?
納米粒度電位儀是一種專門用于測量納米顆粒表面電位的儀器。納米顆粒表面電位是指在納米尺度下顆粒表面所帶的電荷狀態。測量納米顆粒的表面電位對于了解其表面性質、相互作用和穩定性等具有重要意義。納米粒度電位儀主要通過以下步驟來測量納米顆粒的表面電位:1、準備樣品:首先,需要準備待測納米顆...
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2023-07-18
Zeta電位分析儀的性能特點,就差你不知道了
Zeta電位儀是一個負反饋放大--輸出系統,與被保護物(如埋地管道)構成閉環調節,通過參比電極測量通電點電位,作為取樣信號與控制信號進行比較,實現控制并調節極化電流輸出,使通電點電位得以保持在設定的控制電位上。Zeta電位分析儀的性能特點:1、儀器采用新設計的新型簡便的電泳池,采...
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2023-02-18
一文解析圖像粒度粒形分析儀的原理和功能特點
圖像粒度粒形分析儀是根據顆粒能使激光產生散射這一物理現象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和較強的方向性,所以在沒有阻礙的無限空間中激光將會照射到無窮遠的地方,并且在傳播過程中很少有發散的現象。圖像粒度粒形分析儀的基本原理:粒度粒形分析儀是利用粒子的布朗運動,根據光的散射原...
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2023-01-15
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